电镀服务

晶圆级芯片级封装 (WLCSP) 技术日益普及,迎合了业界对更小型、更薄的微电子封装需求。 与传统的引线键合或互连层封装技术相比,WLCSP 具有更小的外形尺寸、更佳的电气性能以及更简单的结构。 PacTech 提供先进的晶圆凸起和 WLCSP 解决方案,例如 RDL 和铜柱电镀:

  • 铜柱凸起:凸点直径可达 25 微米

  • 柱状金属层叠:Cu、Cu/SnAg、Cu/Ni/SnAg 等可选组合

  • 凸点工艺:覆焊盘 / 覆聚合物

  • 铜重新分配层:单层或多层铜层,提供多种聚合物钝化材料选择

  • 适用基板:硅、玻璃和氮化镓,适用晶圆尺寸:100mm 至 200mm

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RDL Redistribution Layer

电镀示例(向下滚动)

1. 开始

目标是在绝缘层上重新分配连接。该过程从绝缘层上方的钝化层开始。

2. 种子层

通常使用溅射或蒸发沉积的金属制成的种子层放置在物体上方,以创建新的连接可能性。

3. 光刻胶

将光敏有机材料 (光刻胶) 涂覆在种子层上。它可以在接下来的光刻工艺中进行掩膜。

4. 光刻

利用光对光刻胶进行掩膜并生成新的连接图案。根据光的极性,材料在弱化和强化方面会受到不同的影响。

5. 电镀

通过电镀工艺,将一层薄薄的材料 (例如铜或其他导体) 沉积在种子层上,沉积区域由光刻胶掩膜限定。

6. 剥离光刻胶

将光刻工艺产生的掩膜从物体上去除,以便在下一个过程中重新处理种子层。

7. 蚀刻

去除物体上不需要的材料 (在本例中为种子层),使种子层和铜层的尺寸完全一致。

8. 钝化

沉积钝化层。这可以在下一个光刻工艺中进行掩膜后将重新定位的电子连接分开。

9. 光刻技术

本工艺示例的第二次掩膜。在特定位置去除钝化层,为凸点下金属化层 (UBM) 创造新的空间。

10. 化镀 UBM

金属层的堆叠放置在钝化层之间的掩膜空间内,以完成用于不同应用的集成电路。

11. 焊球

现在可以将焊料凸点或铜柱放置在 UBM 层上,用于后续的倒装芯片等应用。

晶圆级封装服务

电镀

电镀,或电化学沉积,是利用电沉积工艺在任何基材上镀覆一层金属的过程。例如,RDL 和铜就属于电镀工艺的一部分。

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化镀

低成本无掩模化学沉积技术,可在晶圆表面沉积各种金属叠层,用作金属间互连,提高产品可靠性和性能。

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激光辅助键合

激光辅助键合是一种利用激光能量将两种材料表面键合在一起的互连方法。

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焊锡凸点技术

多种焊锡沉积技术用于形成 WLCSP 和倒装芯片互连的焊锡凸点。

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晶圆级组件封装

晶圆级封装是将芯片或各种无源器件贴装在晶圆表面的工艺。

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晶圆减薄

晶圆减薄是指为最终封装中的芯片减薄晶圆背面的过程。

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晶圆金属镀层

利用蒸发或溅射技术在晶圆背面应用各种金属叠层以提高芯片性能。

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晶圆切割

晶圆切割是指利用高精度的方法将晶圆上的芯片一个个分开分离的过程。

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